QCC-A 磁性測(cè)厚儀

描述：執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、 GB/T13452.2-92 、 ISO2808-74 本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

更新時(shí)間：2025-02-19

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QCC-A 磁性測(cè)厚儀
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、 GB/T13452.2-92 、 ISO2808-74 本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)：
1 、測(cè)定范圍： O-500μm
2 、測(cè)量精度： 40μm 以下±2μm 40μm 以上±5%

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